NaI(Tl)闪烁探测器性能随温度变化实验

• 作者: 屈国普 常元智 张文利 汪伦 赵越
• 来源期刊: 太赫兹科学与电子信息学报
• 学科: 工学
• 关键词: NaI(Tl)闪烁探测器 温度变化 峰位道址 稳谱
• 年，卷（期）: 2019,（5）
• 所属期刊栏目: 微电子、微系统与物理电子学
• 页码范围: 910-913
• 页数: 4页
• 分类号: TL364.4
• 字数: 2185字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11805/TKYDA201905.0910

摘要

采用高低温试验方法探究了温度变化对NaI(Tl)闪烁探测器性能及能谱测量的影响,观察能谱并以常温25°C为基准,计算137Cs的0.662 MeV、60Co源1.173 MeV,1.332 MeV特征峰位道址、γ射线全能峰计数率、能量分辨率在25°C下相对变化值.结果为:137Cs的0.662 MeV、60Co源1.173 MeV,1.332 MeV特征峰位道址在0°C～20°C范围内基本保持一致,在20°C～45°C范围内随温度升高逐渐降低;0.662 MeV和1.173 MeV全能峰计数率随温度变化分别在±5.19％和±4.48％范围内保持一致;3个对应能量分辨率分别在±4.3％范围内随温度变化保持一致.可看出利用γ源作为稳峰源是可行的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	屈国普	南华大学核科学技术学院	103	338	9.0	11.0
2	赵越	南华大学核科学技术学院	39	56	4.0	5.0
3	常元智	南华大学核科学技术学院	4	0	0.0	0.0
4	汪伦	南华大学核科学技术学院	6	0	0.0	0.0
5	张文利	南华大学核科学技术学院	6	0	0.0	0.0