基于门槛模型的双向FDI溢出效应研究

• 作者: 类骁
• 来源期刊: 北京信息科技大学学报（自然科学版）
• 学科: 经济
• 关键词: 双向FDI 溢出权重 门槛回归 技术进步 高技术产业
• 年，卷（期）: 2019,（2）
• 页码范围: 5-8,22
• 页数: 5页
• 分类号: F204
• 字数: 3641字
• 语种: 中文
• DOI: 10.16508/j.cnki.11-5866/n.2019.02.002

摘要

为刻画双向FDI溢出效应的非线性作用机理,建立了新的溢出权重公式,利用Hansen门槛回归思想构建门槛面板模型,以G20国家为例实证研究了双向FDI溢出对我国区域技术进步的影响作用.研究结果表明:双向FDI溢出显著的存在基于高技术产业研发强度的单门槛效应,FDI溢出和OFDI溢出门槛值分别为0.251和0.427;溢出与区域技术进步呈“U”形关系,只有当高技术产业强度跨过以上各自门槛值时,溢出与区域技术进步才表现为正向关系;溢出的国别异质性明显,发达国家FDI溢出正向作用显著,发展中国家FDI溢出呈显著的负向作用;OFDI溢出与区域技术进步整体表现为负向关系.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	类骁	北京信息科技大学信息管理学院	11	7	1.0	2.0