X射线荧光光谱测定石墨烯粉体中的杂质元素

• 作者: 刘忍肖 田国兰 葛广路 陈岚
• 来源期刊: 分析测试技术与仪器
• 学科: 化学
• 关键词: 石墨烯粉体 杂质元素 快速无损
• 年，卷（期）: 2019,（3）
• 所属期刊栏目: 分析测试新方法
• 页码范围: 160-169
• 页数: 10页
• 分类号: O657.34
• 字数: 4838字
• 语种: 中文
• DOI: 10.16495/j.1006-3757.2019.03.004

摘要

石墨烯粉体是我国已具备规模化生产能力的主要石墨烯材料,针对其关键物理化学特性建立准确可靠的测量方法极为重要.开发了一种利用X射线荧光光谱(XRF)技术对石墨烯粉体中杂质进行快速、无损分析的检测方法,可实现对石墨烯粉体产品质量的便捷初判.研究了石墨烯粉体样品的不同测试形态,并通过将XRF测量结果与电感耦合等离子体-原子发射光谱(ICP-OES)、电感耦合等离子体-质谱(ICP-MS)和X射线能谱(EDX)等检测技术的测量结果进行对比,结果表明XRF可对石墨烯粉体样品中的非金属杂质S、Cl、Si、P及金属杂质Na、Mg、Ca、Fe、Cu、Ti、W、Cr等可靠检出,可实现对石墨烯粉体中杂质元素的快速、简便、无损低成本的定量测量.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘忍肖	国家纳米科学中心中国科学院纳米标准与检测重点实验室	4	17	2.0	4.0
2	葛广路	国家纳米科学中心中国科学院纳米标准与检测重点实验室	12	49	5.0	6.0
3	田国兰	国家纳米科学中心中国科学院纳米标准与检测重点实验室	1	0	0.0	0.0
4	陈岚	国家纳米科学中心中国科学院纳米标准与检测重点实验室	1	0	0.0	0.0