基于近场光分布法的光纤涂覆层几何参数测试

• 作者: 夏于生
• 来源期刊: 现代传输
• 关键词: 光纤 涂覆层尺寸 近场光分布法 图像处理
• 年，卷（期）: 2019,（6）
• 所属期刊栏目: 线缆材料
• 页码范围: 63-66
• 页数: 4页
• 字数: 2455字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-5137.2019.06.006

摘要

光纤涂覆层几何参数测试,目前主要依据国际电工委员会标准IEC 60793-1-21,应用侧视法对光纤涂覆层,包括一次涂覆、二次涂覆几何性能进行测试.侧视法通过有限点拟合反映光纤涂覆层几何性能,可以表征一段光纤长度上的光纤涂覆层拟合平均性能.本文采用近场光分布法开展对光纤涂覆层几何参数的测试,并应用图像处理技术实现并优化.其测量结果和侧视法比较,测试结果基本一致.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	夏于生		1	0	0.0	0.0