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摘要:
采用超声雾化喷涂技术,以AZ4620光刻胶为研究对象,以硅通孔(TSV)刻蚀后的硅片为基材,在12英寸(1英寸=2.54 cm)结构化晶圆表面喷涂光刻胶形成薄膜.分别研究了稀释质量比、超声功率、氮气体积流量、喷嘴与晶圆表面的间距、载台温度等工艺参数对TSV硅片表面喷涂质量的影响,最终通过优化过程工艺参数,得到表面胶颗粒细小、膜厚均匀性好、台阶覆盖率高的涂覆刻蚀片.实验结果表明,超声雾化喷涂法可以很好地应用于三维结构表面涂覆,克服了旋涂方法在三维结构应用中带来的缺陷,同时有效地提高了光刻胶的利用率,在集成电路(IC)制造和微电子机械系统(MEMS)工艺中有着广阔的应用前景.
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文献信息
篇名 结构化晶圆表面厚胶喷涂工艺
来源期刊 微纳电子技术 学科 工学
关键词 喷胶 AZ4620光刻胶 硅通孔(TSV) 胶颗粒粒径 台阶覆盖率
年,卷(期) 2019,(11) 所属期刊栏目 加工、测量与设备
研究方向 页码范围 933-938
页数 6页 分类号 TN305.7
字数 语种 中文
DOI 10.13250/j.cnki.wndz.2019.11.010
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 杨芳 1 0 0.0 0.0
2 武忙虎 1 0 0.0 0.0
3 王浩亮 1 0 0.0 0.0
4 翟鑫月 1 0 0.0 0.0
5 王勋 1 0 0.0 0.0
6 李宝霞 3 0 0.0 0.0
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硅通孔(TSV)
胶颗粒粒径
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