不良导体导热系数测量实验装置的改进

• 作者: 修俊山 李季远 林杉
• 来源期刊: 山东理工大学学报（自然科学版）
• 学科: 物理学
• 关键词: 稳态法 导热系数 温度传感器 单片机
• 年，卷（期）: 2019,（6）
• 页码范围: 20-24
• 页数: 5页
• 分类号: O4-3
• 字数: 2115字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-6197.2019.06.005

摘要

材料结构的变化与所含杂质对导热系数都有明显的影响,因此材料的导热系数常通过稳态法由实验具体测定.通过分析现有物理实验仪器的不足,提出了一种以STM32单片机为主控芯片,DS18B20温度传感器进行温度采集的改进方法,制作出能同时实现温度测量、数据采集、加热控制、实验计时、曲线绘制、串口通信等功能的不良导体导热系数实验仪.实验表明,改进后的仪器测量过程稳定,数据精度高且操作极其便捷,对于不良导体导热系数测量实验具有一定的应用价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	修俊山	山东理工大学物理与光电工程学院	6	8	2.0	2.0
2	林杉	山东理工大学物理与光电工程学院	3	6	2.0	2.0
3	李季远	山东理工大学物理与光电工程学院	3	6	2.0	2.0