活性氧通过影响线粒体膜电位参与小鼠高血糖加重脑缺血性损伤

• 作者: 孙世辉 岳萌 张紫晶 马轶 高伟俊
• 来源期刊: 神经解剖学杂志
• 关键词: 高血糖 脑缺血再灌注损伤 活性氧 线粒体膜电位 小鼠
• 年，卷（期）: 2019,（1）
• 所属期刊栏目: 原著
• 页码范围: 35-40
• 页数: 6页
• 语种: 中文
• DOI: 10.16557/j.cnki.1000-7547.2019.01.006

摘要

目的:探讨活性氧(ROS)参与高血糖加重脑缺血性损伤的可能机制.方法:采用链脲佐菌素(STZ)诱导联合大脑中动脉栓塞(MCAO)法建立小鼠高血糖脑缺血再灌注模型,于再灌注后5、24h收集脑组织,通过神经行为学评分、TTC染色评价高血糖对脑缺血性损伤的影响,用ROS荧光探针-二氢乙啶(DHE)、JC-1分析活性氧和线粒体膜电位(△ψ)的变化情况.结果:与正常血糖脑缺血组相比,高血糖脑缺血组神经行为学评分与脑梗塞体积明显增加,活性氧产量于再灌注5和24h明显增加,线粒体膜电位于再灌注24h明显去极化.结论:高血糖可加重脑缺血性损伤,且活性氧可能通过影响线粒体膜电位参与高血糖加重脑缺血性损伤.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	马轶	宁夏医科大学基础医学院病理系	9	13	2.0	3.0
2	岳萌	宁夏医科大学基础医学院病理系	1	0	0.0	0.0
6	孙世辉	空军军医大学唐都医院神经内科	1	0	0.0	0.0
7	张紫晶	宁夏医科大学总医院麻醉科	1	0	0.0	0.0
8	高伟俊	宁夏医科大学基础医学院发育生物学系	1	0	0.0	0.0