活性氧激活线粒体凋亡通路是亚硒酸钠诱导NB4细胞凋亡的重要机制

• 作者: 关丽英 冯磊 卫玮 杨洋 许彩民 韩兵社 黄方
• 来源期刊: 中国医学科学院学报
• 关键词: 活性氧 细胞凋亡 线粒体膜电位
• 年，卷（期）: 2007,（3）
• 所属期刊栏目: 论著
• 页码范围: 324-328
• 页数: 5页
• 分类号: Q7
• 语种: 中文

摘要

目的 探讨亚硒酸钠诱导NB4细胞凋亡过程中,活性氧引起的线粒体膜电位丧失及凋亡作用的相关机制.方法 用活性氧荧光探针DCFH-DA探测经亚硒酸钠诱导的NB4细胞内活性氧的含量.流式细胞术检测细胞凋亡率及线粒体膜电位变化.Western blot检测胞浆中细胞色素C含量的变化及细胞总蛋白中Bcl-xl、Bax和Bid的含量变化及切割行为.同时应用活性氧清除剂MnTmPy及活性氧激活剂BSO预处理细胞,观察Bid及凋亡的变化.结果 活性氧清除剂MnTmPy可有效抑制亚硒酸钠诱导的NB4细胞凋亡、线粒体膜电位丧失及Bid的切割;而BSO可促进线粒体膜电位丧失.结论 亚硒酸钠诱导NB4细胞凋亡的可能机制是通过刺激细胞产生活性氧,一方面下调抗凋亡蛋白Bcl-xl,另一方面激活线粒体打孔蛋白Bax和Bid,损伤线粒体使膜电位降低,促使线粒体释放细胞色素C.