基于V93000的现场可编程门阵列测试时间优化方法

• 作者: 肖艳梅 解维坤 陆锋
• 来源期刊: 测试技术学报
• 关键词: 自动测试设备 现场可编程门阵列 4X配置方式 多帧写位流压缩 测试配置时间
• 年，卷（期）: 2019,（1）
• 所属期刊栏目: 测试技术与理论研究
• 页码范围: 88-92
• 页数: 5页
• 字数: 2136字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-7449.2019.01.016

摘要

对于现场可编程门阵列FPGA, 测试配置时间远大于加测试向量的时间, 为实现FPGA快速配置测试, 本文提出了一种FPGA测试时间优化方法:采用Advantest公司V93000自动测试设备, 通过在一个周期内加载4行配置向量对电路配置比特流的测试时间进行优化 (即4X配置方式), 并结合FPGA多帧写位流压缩方法对电路测试配置的编程加载时间进行优化;以Xilinx公司Virtex-7系列FPGA-XC7VX485T为例进行了测试验证, 测试数据表明:采用V93000SoC测试系统的4X配置方式, FPGA的单次配置时间减少了74.1％;为了满足量产测试对于测试时间的要求, 进一步提出V93000的4X配置方式与FPGA的位流压缩相结合的方法, FPGA的单次配置时间由1.047s减少到47.834ms, 测试时间压缩了95.5％.该方法有效减少了FPGA单次测试时间, 提高了在系统配置速度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陆锋	江南大学物联网工程学院	19	27	3.0	4.0
3	肖艳梅	江南大学物联网工程学院	4	3	1.0	1.0
7	解维坤	江南大学物联网工程学院	10	22	2.0	4.0