材料微观裂纹的光学低相干检测技术

• 作者: 何明灿 唐语 朱永凯
• 来源期刊: 无损检测
• 学科: 工学
• 关键词: 微观裂纹检测 光学低相干 图像重构 高分辨率
• 年，卷（期）: 2019,（7）
• 所属期刊栏目: 试验研究
• 页码范围: 30-33,38
• 页数: 5页
• 分类号: TG115.28
• 字数: 2845字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11973/wsjc201907007

摘要

以材料的微观裂纹为检测对象,基于扫频光学的低相干技术原理,设计构建了马赫-泽德干涉结构的低相干系统,采用平衡探测器接收干涉光信号,并通过LabVIEW软件平台实现数据的采集与存储,得到了叶片微观裂纹的二维信息,再据此对该裂纹进行了图像重构.系统的检测分辨率可达到15.6μm,该方法具有非侵入、检测分辨率高等优点.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	朱永凯	南京航空航天大学自动化学院	23	91	5.0	9.0
2	唐语	南京航空航天大学自动化学院	2	0	0.0	0.0
3	何明灿	南京航空航天大学自动化学院	2	0	0.0	0.0