一种综合孔径微波辐射计成像处理算法

• 作者: 丁孝永 王锐 陈海建
• 来源期刊: 宇航计测技术
• 学科: 工学
• 关键词: 微波辐射计 小波增强 超分辨率
• 年，卷（期）: 2019,（3）
• 所属期刊栏目: 计量保障技术
• 页码范围: 79-84
• 页数: 6页
• 分类号: TN929
• 字数: 3974字
• 语种: 中文
• DOI: 10.12060/j.issn.1000-7202.2019.03.15

摘要

综合孔径成像是基于干涉仪成像原理实现的一种成像方式,其通过对干涉测量结果进行逆傅里叶变换得到场景的亮温分布,利用小波增强去噪算法在时域和频域同时对图像进行处理,增强需求信息抑制非必要信息,并附加特定的窗函数滤除杂波,提高重建的微波辐射计图像的清晰度和平滑感.采用盲解卷的Lorentzian超分辨率算法提高成像的分辨力,较好的解决了天线口面尺寸与分辨力矛盾的问题.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	丁孝永		6	3	1.0	1.0
2	陈海建		3	3	1.0	1.0