高纯锗探测器表面粗糙度测试

• 作者: 郝晓勇 阙子昂
• 来源期刊: 中国原子能科学研究院年报
• 学科: 工学
• 关键词: 高纯锗探测器 表面粗糙度 算术平均值 表面状况 表面轮廓 界面态密度 载流子寿命 结构损伤
• 年，卷（期）: 2019,（1）
• 页码范围: 153-154
• 页数: 2页
• 分类号: TL81
• 语种: 中文

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郝晓勇	中国原子能科学研究院核技术应用研究所	9	14	2.0	3.0
2	阙子昂	中国原子能科学研究院核技术应用研究所	3	0	0.0	0.0