X射线数字成像检测设备的GIS设备典型缺陷检测技术

• 作者: 傅思伟 叶芳 张迅达 李庆钊 李田
• 来源期刊: 数字技术与应用
• 学科: 工学
• 关键词: X射线数字成像检测 GIS 无损检测 断路器
• 年，卷（期）: 2019,（9）
• 所属期刊栏目: 应用研究
• 页码范围: 107-108,110
• 页数: 3页
• 分类号: TM595
• 字数: 1990字
• 语种: 中文
• DOI: 10.19695/j.cnki.cn12-1369.2019.09.57

摘要

文章介绍了一种采用X射线数字成像技术对GIS设备中典型缺陷进行检测的手段.对天津某变电站110kV GIS断路器进行X射线无损检测,并提供了一种尺寸测量方法.经过实验对照,证实X射线数字成像技术能够直观、定性地对GIS内部结构进行观察,为检修提供参考.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	叶芳		5	1	1.0	1.0
2	李庆钊		3	11	1.0	3.0
3	李田		3	0	0.0	0.0
4	傅思伟		3	0	0.0	0.0
5	张迅达		2	0	0.0	0.0