智能电表用DC-DC电源芯片寿命预测及失效分析

• 作者: 卢炽华 孙志端 王乐 王晓东 章蓉芳
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 工学
• 关键词: 智能电表 失效分析 Eyring理论 DC-DC电源芯片
• 年，卷（期）: 2019,（4）
• 所属期刊栏目: 固态电子器件及材料
• 页码范围: 871-876
• 页数: 6页
• 分类号: TM933
• 字数: 3527字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2019.04.012

摘要

为了评估电源芯片是否满足可靠性要求.设计了DC-DC电源芯片的可靠性加速寿命试验,选取温度、湿度和电压作为综合加速应力,根据Eyring理论模型,模拟预测出现场运行10年后,电源芯片的累计失效率远远超过电能表寿命保证期内允许的累计失效率0.65％的要求.分析其失效根源,确认制作过程中,夹头倾斜导致制作的BLT(胶层厚度)厚度存在几乎为0的情况,造成PIN脚(电源芯片的金属管脚)与GND之间无胶层而存在接触短路.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王晓东		16	52	4.0	6.0
2	王乐		4	0	0.0	0.0
3	卢炽华		4	0	0.0	0.0
4	孙志端		3	0	0.0	0.0
5	章蓉芳		1	0	0.0	0.0