温度对恒虚警补偿下APD倍增因子的影响

• 作者: 刘贺雄 周冰 贺宣 鲁军
• 来源期刊: 激光与红外
• 学科: 工学
• 关键词: 温度 雪崩光电二极管 恒虚警概率 倍增因子 探测能力
• 年，卷（期）: 2019,（4）
• 所属期刊栏目: 光电对抗
• 页码范围: 487-492
• 页数: 6页
• 分类号: TN215
• 字数: 4054字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-5078.2019.04.017

摘要

雪崩光电二极管倍增因子、噪声都会受到温度影响,在恒虚警下APD倍增因子、噪声之间会相互作用,为了研究温度变化对APD性能造成的影响并对其进行评估,分析了温度对暗电流、热噪声、倍增因子的影响及恒虚警补偿方式工作原理.建立了恒虚警下温度与倍增因子的关系模型,对模型进行了实验验证,利用模型对不同背景光、不同虚警概率下温度对倍增因子的影响进行了分析,提出了温度对恒虚警下APD性能影响的评估方法.结果表明:恒虚警下,倍增因子随温度的升高而降低;同一温度下,背景光越强或倍增因子越小时,虚警概率低,倍增因子较小;且背景光越弱、虚警概率越低时,温度对倍增因子的影响越明显.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘贺雄	陆军工程大学石家庄校区电子与光学工程系	11	7	2.0	2.0
2	周冰	陆军工程大学石家庄校区电子与光学工程系	14	10	2.0	2.0
3	贺宣	陆军工程大学石家庄校区电子与光学工程系	10	4	1.0	2.0
4	鲁军	陆军工程大学石家庄校区电子与光学工程系	2	3	1.0	1.0