基于散射校正板的锥束微纳CT系统的散射校正

• 作者: 吴琦 周志政 唐天旭 段晓礁
• 来源期刊: 光学学报
• 学科: 工学
• 关键词: X射线光学 锥束微纳计算机断层扫描 散射校正 伪影
• 年，卷（期）: 2019,（8）
• 所属期刊栏目: X射线光学
• 页码范围: 403-413
• 页数: 11页
• 分类号: TN911.73
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/AOS201939.0834001

摘要

在锥束计算机断层扫描(CT)系统中,由于不易放置后准直器,未经校正的散射信号会导致测量信号偏离真实值,降低图像的对比度和信噪比,甚至产生伪影.利用散射校正板(BSA)可以有效估计射线穿过工件后的散射信号分布.将BSA散射校正方法应用于锥束微纳CT系统,通过在X射线源与工件之间放置校正板的方式获取散射分布.首先介绍了基于BSA散射校正的基本原理,给出了具体的实验装置和实验步骤,然后使用自主研制的锥束微纳CT系统对几种工件进行扫描成像,最后从DR投影、重建切片、三维重建图像等多个角度对图像质量进行分析.结果 表明,基于BSA的散射校正方法能够有效减少锥束微纳CT系统的散射伪影,改善图像质量,验证了BSA方法应用于锥束微纳CT系统的可行性.考虑微纳CT射线源能量低、焦点漂移影响大等因素,可在散射校正的基础上增加硬化校正和焦点漂移校正,进一步对图像进行修正.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	唐天旭		1	0	0.0	0.0
2	段晓礁		1	0	0.0	0.0
3	周志政		1	0	0.0	0.0
4	吴琦		1	0	0.0	0.0