改进的磁元件圆导线绕组高频损耗模型

• 作者: 柳百毅 陈为
• 来源期刊: 中国电机工程学报
• 学科: 工学
• 关键词: 邻近效应 集肤效应 绕组损耗 圆导体 模型
• 年，卷（期）: 2019,（9）
• 所属期刊栏目: 电工理论与新技术
• 页码范围: 2795-2802
• 页数: 8页
• 分类号: TM503
• 语种: 中文
• DOI: 10.13334/j.0258-8013.pcsee.172164

摘要

绕组损耗是磁性元件设计的关键,传统计算绕组高频涡流损耗的理论方法有Dowell模型和Bessel函数.随着功率变换器工作频率的提高以及多股绞线的应用,这些方法将带来很大的误差.通过深入分析涡流的集肤和邻近效应在圆导体上所产生的电流密度分布特性,提出一种改进的绕组高频损耗模型,能够更精确地计算高频下圆导体绕组的损耗.通过有限元仿真和样品测试验证了所提出模型的精度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈为		171	1274	19.0	31.0
2	柳百毅		3	0	0.0	0.0