天线互耦对综合孔径辐射计成像的影响和校准

• 作者: 吴鑫涛
• 来源期刊: 电子元器件与信息技术
• 关键词: 综合孔径辐射计 天线耦合 微波遥感 天线阵列 定标
• 年，卷（期）: 2019,（1）
• 所属期刊栏目: 信息技术
• 页码范围: 48-50,54
• 页数: 4页
• 字数: 1881字
• 语种: 中文
• DOI: 10.19772/j.cnki.2096-4455.2019.1.014

摘要

本文分析了阵列天线互相耦合对综合孔径辐射计反演结果的影响与校准.对天线互耦的机制进行研究,建立了数学模型,得出要消除天线互耦造成的误差,需要测量每一个天线在天线阵列中的自阻抗和与其他天线间的互阻抗.仿真过程中引入正态分布的测量误差,通过天线自阻抗和互阻抗模型计算系数矩阵,并校准误差.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴鑫涛		1	0	0.0	0.0