对电子信息工程应用中的简易电路特性测试仪的研究

• 作者: 丁安迪
• 来源期刊: 中国高新区
• 关键词: 单片机 采样 扫频 电路功能模块
• 年，卷（期）: 2019,（11）
• 所属期刊栏目: 信息技术
• 页码范围: 206-208
• 页数: 3页
• 字数: 2746字
• 语种: 中文

摘要

本论文研究的简易电路特性测试仪以单片机(MSP430F5529)为核心,主要通过其采样等功能来实现对被测电路输入、输出电阻、增益以及幅频特性的获取和呈现;如果配合测试仪内置的电压放大器、电压跟随器等电路功能模块及预先烧录判断故障程序,可以瞬间得知并显示电路中突然出现的电阻或电容的开路或短路等各种问题.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	丁安迪		2	1	1.0	1.0