X荧光光谱法测定矿石中的稀土元素

• 作者: 肖志博
• 来源期刊: 世界有色金属
• 学科: 化学
• 关键词: 粉末压片 X-荧光光谱仪 稀土 重叠干扰
• 年，卷（期）: 2019,（12）
• 所属期刊栏目: 化学化工
• 页码范围: 130-131
• 页数: 2页
• 分类号: O657.34|P575
• 字数: 1755字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-5065.2019.12.073

摘要

运用直接粉末压片法制备样品在X荧光光谱仪上测量稀土元素.通过分析测量元素的特性寻找合适的仪器基本测量参数,根据所选元素的相应谱线寻找相邻的可能的重叠干扰后准确扣除谱线干扰.根据样品基体组成合理进行基体矫正.最终达到准确测量稀土元素含量的目的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	肖志博	华北有色地质勘查局燕郊中心实验室	1	2	1.0	1.0