利用斜入射光反射差技术探究片状材料的形貌与介电特性

• 作者: 孟昭晖 相文峰 秦凡凯 苗昕扬 詹洪磊 赵昆 陈儒
• 来源期刊: 物理实验
• 学科: 物理学
• 关键词: 斜入射光反射差 片状材料 形貌 复电容率
• 年，卷（期）: 2020,（2）
• 所属期刊栏目: 近代与综合实验
• 页码范围: 7-11
• 页数: 5页
• 分类号: O439
• 字数: 2070字
• 语种: 中文
• DOI: 10.19655/j.cnki.1005-4642.2020.02.002

摘要

利用斜入射光反射差(OIRD)技术检测了Na2CO3,CaCl2,CaCO3和NaCl矿物晶体压片的表面形貌特征,研究了4种矿物晶体对入射激光的吸收特性和折射率,获取到了4种矿物晶体压片的OIRD成像图.由OIRD成像图可知:CaCl2和Na2 CO3对入射的激光吸收较强,CaCO3和NaCl对入射的激光吸收较弱;含Cl—的化合物比含CO2—3的化合物的折射率更大.实验结果表明,OIRD技术不仅可以检测样品的表面形貌特征,还能获取样品的介电性质.