剂量增强效应的蒙特卡罗模拟及实验研究

• 作者: 何承发 刘国卿 吴正新 孙慧斌 王莹 童永彭 赵海歌 马玉刚
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 工学
• 关键词: MC模拟 铅铝屏蔽盒 次级电子能谱 剂量增强
• 年，卷（期）: 2020,（1）
• 页码范围: 94-98
• 页数: 5页
• 分类号: TL99
• 字数: 2975字
• 语种: 中文

摘要

当X射线入射不同材料组成的界面时,在低Z材料的一侧将产生剂量增强,介绍了剂量增强效应的基本原理,并采用MCNP5构建三维铅铝屏蔽盒模型,计算了不同能量的X射线透过铅与铝产生的次级电子能谱以及穿过屏蔽盒后的金硅界面剂量深度分布.模拟计算表明,能量低于300 keV的X射线穿过铅铝屏蔽盒后的次级电子通量明显降低,剂量增强效应几乎可以忽略,界面硅一侧剂量均匀分布,并且实验结果与计算结果几乎吻合.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	马玉刚	吉林大学物理学院	33	101	6.0	9.0
2	赵海歌	深圳大学核技术研究所	15	34	3.0	4.0
3	刘国卿	深圳大学核技术研究所	24	228	8.0	14.0
4	孙慧斌	深圳大学核技术研究所	34	131	7.0	9.0
6	何承发	中国科学院新疆理化技术研究所	14	85	4.0	9.0
7	童永彭	深圳大学核技术研究所	15	63	3.0	7.0
8	吴正新	深圳大学核技术研究所	4	1	1.0	1.0