中国电路测试技术研究的开拓者——访魏道政研究员

• 作者: 徐祖哲 李晓维 王颖
• 来源期刊: 中国计算机学会通讯
• 年，卷（期）: 2020,（3）
• 所属期刊栏目: 动态
• 页码范围: 62-65
• 页数: 4页
• 语种: 中文

摘要

魏道政,男,1929年7月生,浙江省诸暨县人,中国科学院计算技术研究所研究员,中国计算机辅助测试和容错计算领域的开拓者和学术带头人之一.1953年毕业于复旦大学数学系,在中科院数学所、计算所工作多年.曾任中国科学院成都计算机应用研究所所长及学术委员会主任、中科院计算所学位评定委员会主席.他提出的主路径敏化法是20世纪70年代电子测试技术领域具有里程碑意义的成果,在数字电路测试产生和可测性设计领域做出了系统性、创造性的贡献.他发起和领导了容错计算学术组织并担任CCF容错计算专委会首届主任委员.1982年获第二届国家自然科学奖,2016年获CCF“中国计算机事业60年杰出贡献特别奖”,2019年获“CCF终身成就奖”.