高速InGaAs光电探测器可靠性寿命评估

• 作者: 伍明娟 刘吉 吴琼瑶 李晓潮 李钦
• 来源期刊: 中国检验检测
• 学科: 物理学
• 关键词: 恒定应力 InGaAs 寿命模型
• 年，卷（期）: 2020,（1）
• 所属期刊栏目: 学术研究
• 页码范围: 6-10,28
• 页数: 6页
• 分类号: O472+.8
• 字数: 3515字
• 语种: 中文
• DOI: 10.16428/j.cnki.cn10-1469/tb.2020.01.002

摘要

随着航天应用高速InGaAs探测器的迅速发展,其可靠性问题日益突出,本文选择温度应力与光应力为加速应力,通过爱林模型与恒定应力加速寿命试验方法对XX型高速InGaAs探测器进行了研究,获得了InGaAs探测器在4种组合应力下的退化数据与寿命模型,进而推算出器件在正常工作状态下的寿命.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李晓潮		5	2	1.0	1.0
2	吴琼瑶		7	21	1.0	4.0
3	伍明娟		6	2	1.0	1.0
4	李钦		2	0	0.0	0.0
5	刘吉		2	0	0.0	0.0