高压覆膜制样-X射线荧光光谱法测定多金属矿中的多种元素

• 作者: 张勤 徐进力 李小莉 潘宴山 薄玮
• 来源期刊: 中国无机分析化学
• 学科: 化学
• 关键词: 高压覆膜制样 X射线荧光光谱法 多金属矿
• 年，卷（期）: 2020,（2）
• 所属期刊栏目: 资源与环境
• 页码范围: 34-38
• 页数: 5页
• 分类号: O657.34|TH744.15
• 字数: 2552字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.2095-1035.2020.02.007

摘要

采用新的制样技术——高压(1800 kN)覆膜(3.6μm Polyester Film)制样,波长色散X射线荧光光谱测定多金属矿中19种组分.该制样技术对高硅锌矿石GBW07237(SiO282.95％),不加黏结剂,也能制出理想的样片.测定结果显示1800 kN制备样品多数组分的灵敏度、精密度和检出限较400 kN制备的样品有所改善.15个多金属矿标准物质建立校准曲线,使用Rh Kα的瑞利散射线作内标测定Cu、Pb、Zn、As和Rh Kα的康普顿散射线作内标测定Sb、Ag、Sn、Bi、Mo及经验系数法校正基体效应.Cu、Pb、Zn、Mn、As、Sb、Ag、Sn、Bi、Mo的测定结果与化学法相符,可同时分析其中的Cd、S、Fe、SiO2、Al2 O3、MgO、CaO、Na2 O、K2 O等成分.实现了固体直接进样测定多金属矿中的多种元素.高压覆膜制样技术是制样技术的突破,国内外尚未见报道.