X射线荧光光谱法测定钨矿中主次元素

• 作者: 安树清 李国会 李小莉 杨丽峰
• 来源期刊: 地质调查与研究
• 学科: 化学
• 关键词: X射线荧光光谱法 熔融片 熔剂 钨矿石
• 年，卷（期）: 2009,（1）
• 所属期刊栏目: 技术、方法
• 页码范围: 64-68
• 页数: 5页
• 分类号: O657.34
• 字数: 2665字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-4135.2009.01.011

摘要

本文中笔者采用熔融玻璃片法制样,使用X射线荧光光谱法测定钨矿石中的钨、磷等主次元素,所用校准标样是用符合国家一级标准的物质由人工配制而成,并用理论α系数内标法及康普顿散射作内标校正基体效应,其分析结果与标准值相符.精密度统计结果显示,主、次量组分方法精密度(RSD,n=10)为0.371%～6.806%.该方法做到了简便、快捷、经济且减少环境污染.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李小莉		31	382	11.0	18.0
2	李国会	中国地质科学院物化探所	34	595	14.0	23.0
3	安树清		11	90	5.0	9.0
4	杨丽峰		2	31	2.0	2.0