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摘要:
利用MCNP程序对450kV X光机建立模型,计算各参考辐射质下的原级谱、平均光子能量.对ISO 4037-1中已有范围的管电压与附加过滤片厚度关系曲线进行二次拟合,确定模拟厚度范围.利用MCNP计算各附加过滤组合下的平均光子能量值,并与外推法得出的平均光子能量值进行对比,将相对偏差最小时的附加过滤作为最终确定值.从部分能量点的模拟与测量结果的对比可看出,模拟得出的平均光子能量在2%以内与PTB及中国计量院测量结果保持一致,附加过滤最大相对偏差为18%.
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内容分析
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文献信息
篇名 高能(450 kV)X射线参考辐射场附加过滤研究
来源期刊 宇航计测技术 学科 工学
关键词 X 射线 参考辐射场 附加过滤 蒙特卡罗模拟
年,卷(期) 2020,(3) 所属期刊栏目 精密测试技术
研究方向 页码范围 69-74
页数 6页 分类号 TL816
字数 2310字 语种 中文
DOI 10.12060/j.issn.1000-7202.2020.03.15
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 林敏 中国原子能科学研究院计量与校准技术重点实验室 36 122 6.0 9.0
2 王波 6 4 1.0 2.0
3 倪宁 中国原子能科学研究院计量与校准技术重点实验室 28 52 4.0 5.0
4 高飞 中国原子能科学研究院计量与校准技术重点实验室 26 54 4.0 5.0
5 徐阳 中国原子能科学研究院计量与校准技术重点实验室 10 2 1.0 1.0
6 赵瑞 9 8 2.0 2.0
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研究主题发展历程
节点文献
X
射线
参考辐射场
附加过滤
蒙特卡罗模拟
研究起点
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期刊影响力
宇航计测技术
双月刊
1000-7202
11-2052/V
大16开
北京142信箱408分箱
18-123
1981
chi
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