X射线荧光光谱法测定高盐背景地质样品中的19元素

• 作者: 蔚志毅 薛福林
• 来源期刊: 化学工程师
• 学科: 化学
• 关键词: 高盐背景 人工混配 含量梯度 基体校正
• 年，卷（期）: 2020,（4）
• 所属期刊栏目: 分析测试
• 页码范围: 16-18
• 页数: 3页
• 分类号: O657.34
• 字数: 1818字
• 语种: 中文
• DOI: 10.16247/j.cnki.23-1171/tq.20200416

摘要

采用粉末压片-X射线荧光光谱法直接测定高盐背景地质类样品的主次量元素(Na2O、MgO、Al2O3、SiO2、P、K2O、CaO、Ti、Mn、TFe2O3、Cu、Cr、Ba、Nb、Zr、Y、Sr、Pb、Zn),选取国家一级标准物质和人工混配标样建立满足高盐背景地质类样品的分析工作曲线,选取最佳的仪器工作条件和各元素的分析参数,保持标准样品与被分析样品的基体一致性,合理选择分析元素曲线含量梯度,采用经验系数法和康谱顿散射线内标法进行基体校正.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蔚志毅		7	11	2.0	3.0
2	薛福林		7	40	2.0	6.0