全谱直流电弧发射光谱法同时测定钼样品中17种杂质元素

• 作者: 付国余 吴冬梅 曲红静 赵燕秋
• 来源期刊: 中国无机分析化学
• 学科: 化学
• 关键词: 直流电弧发射光谱法 钼 光谱缓冲剂 分段采集
• 年，卷（期）: 2020,（2）
• 所属期刊栏目: 冶金与材料
• 页码范围: 67-72
• 页数: 6页
• 分类号: O657.31|TH744.11
• 字数: 3058字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.2095-1035.2020.02.015

摘要

为了解决现有测定方法中样品前处理复杂、测定过程繁琐的问题,研究了直流电弧发射光谱法测定钼样品中Al、Bi、Ca、Cd、Co、Cr、Cu、Fe、Mg、Mn、Ni、Pb、Sb、Si、Sn、Ti、V等17种元素的方法.用石墨粉(98％)、碳酸钠(1％)和氟化钠(1％)作为光谱缓冲剂抑制基体元素蒸发、稳定弧焰、促进杂质元素的蒸发;采用样品装满电极后下压2 mm和滴加蔗糖乙醇水溶液(2％)的方式,防止喷溅的发生,稳定激发过程,减小基体干扰;对挥发难易程度不同的元素采用信号分段采集的方式,提高各元素信噪比.方法灵敏度高、分析速度快、操作简便,加标回收率为85％～120％,各元素分析精密度均小于15％.