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摘要:
鉴于当前雪崩光电二极管(APD)测试平台存在设备冗杂、测试效率低等问题,设计了一套以现场可编程门阵列(FPGA)为控制核心,搭配高精度时间数字转换芯片TDC-GPX的APD性能测试系统,可实现APD性能参数的自动化测试.同时设计了一种稳定单光子脉冲信号输出方法,并提出了使用时间数字转换进行光子计数及数据处理、后脉冲参数计算的设计方案.通过实验验证,测试系统集成光源信号半峰全宽为46.6 ps,峰值幅度为304.4 mV,幅值抖动为3.7%,满足APD测试对输入单光子源的要求.该测试系统能够有效测试APD性能参数,测试效率得到了极大提升.
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文献信息
篇名 雪崩光电二极管性能测试系统的研究
来源期刊 量子电子学报 学科 工学
关键词 光电子学 性能测试系统 时间数字转换器 光子计数 单光子源 雪崩光电二极管
年,卷(期) 2020,(3) 所属期刊栏目 激光技术与器件
研究方向 页码范围 321-327
页数 7页 分类号 TN36
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1007-5461.2020.03.010
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 洪占勇 32 139 6.0 10.0
5 尹航 2 7 1.0 2.0
9 丁传杨 1 0 0.0 0.0
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研究主题发展历程
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雪崩光电二极管
研究起点
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1007-5461
34-1163/TN
大16开
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1984
chi
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