雪崩光电二极管性能测试系统的研究

• 作者: 丁传杨 尹航 洪占勇
• 来源期刊: 量子电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 光电子学 性能测试系统 时间数字转换器 光子计数 单光子源 雪崩光电二极管
• 年，卷（期）: 2020,（3）
• 所属期刊栏目: 激光技术与器件
• 页码范围: 321-327
• 页数: 7页
• 分类号: TN36
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-5461.2020.03.010

摘要

鉴于当前雪崩光电二极管(APD)测试平台存在设备冗杂、测试效率低等问题,设计了一套以现场可编程门阵列(FPGA)为控制核心,搭配高精度时间数字转换芯片TDC-GPX的APD性能测试系统,可实现APD性能参数的自动化测试.同时设计了一种稳定单光子脉冲信号输出方法,并提出了使用时间数字转换进行光子计数及数据处理、后脉冲参数计算的设计方案.通过实验验证,测试系统集成光源信号半峰全宽为46.6 ps,峰值幅度为304.4 mV,幅值抖动为3.7％,满足APD测试对输入单光子源的要求.该测试系统能够有效测试APD性能参数,测试效率得到了极大提升.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	洪占勇		32	139	6.0	10.0
5	尹航		2	7	1.0	2.0
9	丁传杨		1	0	0.0	0.0