物联网硬件安全研究

• 作者: 修黎明 白一鸣 魏祥野
• 来源期刊: 微纳电子与智能制造
• 学科: 工学
• 关键词: 集成电路 硬件安全 随机数发生器 物理非克隆函数
• 年，卷（期）: 2020,（2）
• 页码范围: 80-87
• 页数: 8页
• 分类号: TN45

摘要

自从20世纪90年代末物联网普及以来,设备开始向小型化、智能化、分布化发展。安全问题随之爆发,开始引起专业人员及学者的广泛关注。庞大的终端数量和复杂的应用场景使硬件安全成为物联网安全的基石。首先梳理了未来设备系统的安全挑战,在此基础上提出安全系统的两大核心技术——真随机数发生器和物理非克隆函数,并对目前主流的架构加以讨论。最后探讨硬件安全的未来发展方向。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	魏祥野		1	0	0.0	0.0
2	白一鸣		1	0	0.0	0.0
3	修黎明		1	0	0.0	0.0