粉末压片-X射线荧光光谱法测定石墨中的杂质组分

• 作者: 刘伟洪 杨峰 郭家泽
• 来源期刊: 化学世界
• 学科: 化学
• 关键词: 粉末压片 X射线荧光光谱 石墨
• 年，卷（期）: 2020,（2）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 110-115
• 页数: 6页
• 分类号: O621.256.4
• 语种: 中文
• DOI: 10.19500/j.cnki.0367-6358.20180808

摘要

采用了非破坏性、无需化学消解试样的固体粉末压片-X射线荧光光谱法测定石墨中8种杂质组分SiO2、Al2O3、Fe2O3、CaO、MgO、MnO、P2O5、TiO2的质量分数.使用国家标准物质(GBW03118-03120,ZBM150-154)建立了校准曲线,优化了粉末压片制样条件.测定石墨标准物质各组分的相对标准偏差(RSD)在0.8％～4.86％之间,测定值与标准值相符,且与电感耦合等离子发射光谱的对比测定结果一致.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨峰		13	37	4.0	5.0
2	刘伟洪		4	2	1.0	1.0
3	郭家泽		2	4	1.0	2.0