普通散绕绕组绝缘结构优化试验研究

• 作者: 张生德 马赫然 高鑫
• 来源期刊: 电机与控制应用
• 学科: 工学
• 关键词: 绝缘结构 偏心度 模型线圈 寿命 耐热等级
• 年，卷（期）: 2020,（5）
• 所属期刊栏目: 研究与设计
• 页码范围: 70-74
• 页数: 5页
• 分类号: TM302
• 字数: 2721字
• 语种: 中文
• DOI: 10.12177/emca.2020.028

摘要

在保证定子绕组绝缘结构可靠性的前提下,通过控制漆包线导体直径(负公差)、漆膜偏心度(≤1.5)和漆膜厚度,减薄槽绝缘及槽楔厚度等方法,优化普通散绕绕组绝缘结构,提高定子槽满率,有利于提升电机效率.对采用优化设计组合的3种典型绝缘结构进行热老化评定,结果表明优化设计的3种绝缘结构温度指数均超过160℃,达到155(r)级.采用优化的绝缘结构方案,可以对高效电机的设计与开发提供帮助.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张生德		5	11	2.0	3.0
2	高鑫		1	0	0.0	0.0
3	马赫然		1	0	0.0	0.0