故障注入在MCU功能安全测试中的实施研究

• 作者: 周子龙 张明朗 王江波 蔡小丽
• 来源期刊: 汽车电器
• 关键词: 功能安全 故障注入 电子/电气系统 ISO 26262
• 年，卷（期）: 2020,（8）
• 所属期刊栏目: 测试设备
• 页码范围: 68-72,74
• 页数: 6页
• 分类号: U463.6
• 语种: 中文

摘要

本文以MCU(电机控制器)为被测对象,以故障注入为主要测试手段,分别进行部件级、系统级、整车级的故障注入测试,并对MCU的功能安全测试的主要项目进行实施研究.试验结果表明,通过故障注入测试可以对系统的安全机制进行有效验证,进而可以实现对系统功能安全的评估.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张明朗		5	0	0.0	0.0
2	周子龙		1	0	0.0	0.0
3	王江波		1	0	0.0	0.0
4	蔡小丽		1	0	0.0	0.0