V-BLAST天线相关性对系统性能影响研究

• 作者: 楚春阳 谢建峰 高瑜翔
• 来源期刊: 成都信息工程大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 信号与信息处理 MIMO阵列 天线相关性 误码率 信道容量 MIMO天线研究
• 年，卷（期）: 2020,（6）
• 所属期刊栏目: 电子信息科学与技术
• 页码范围: 610-615
• 页数: 6页
• 分类号: TN820
• 语种: 中文
• DOI: 10.16836/j.cnki.jcuit.2020.06.005

摘要

针对影响V-BLAST系统的天线阵列相关性的因素以及各因素综合作用下对系统性能存在重大影响这一情况,基于V-BLAST系统模型以及天线相关性理论,提出相应的影响天线相关性因素的理论模型和系统性能分析模型,并对阵列相关性及系统误码率和信道容量性能进行多因素及综合仿真.仿真得到天线间距、波束到达角、角度扩展和耦合各单个因素和综合因素影响下的系统误码率和信道容量变化的数值结果和相关结论,与只考虑单个因素影响相比,综合后系统误码率至少增大了1倍,信道容量至少降低了30％.