基于子阵列自适应成像的RCS测量方法

• 作者: 廖可非 刘扬 欧阳缮
• 来源期刊: 桂林电子科技大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: RCS测量 三维成像 子阵列 自适应成像
• 年，卷（期）: 2020,（4）
• 所属期刊栏目: 通信与电子
• 页码范围: 270-273
• 页数: 4页
• 分类号: TN953
• 语种: 中文

摘要

为了解决复杂目标特定观测角度下回波不相参,进而影响基于成像的雷达散射截面积(RCS)测量精度的问题,基于三维后向投影(BP)算法,提出了一种基于子阵列自适应成像的目标RCS测量方法.该方法通过设置一个互相关系数,将全(虚拟)阵列自适应划分为若干个子阵列,对每个子阵列的回波数据分别成像并反演RCS,将所有的RCS曲线拼接,得到完整的RCS曲线.经仿真数据验证,该方法效果良好,可以改善计算得到RCS曲线的均值与方差.