双测头复合型微纳米测量仪的研制

• 作者: 傅云霞 刘俭 吴俊杰 李源 魏佳斯
• 来源期刊: 光学精密工程
• 学科: 工学
• 关键词: 微纳米测量 白光干涉测头 原子力显微镜 多测头技术 精密定位
• 年，卷（期）: 2020,（2）
• 所属期刊栏目: 微纳技术与精密机械
• 页码范围: 415-423
• 页数: 9页
• 分类号: TH711
• 字数: 3305字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/OPE.20202802.0415

摘要

针对当前微纳米测量中存在的大范围高精度测量及复杂微结构几何参数表征难题,基于多测头传感和精密定位平台复用技术,开发了一台具有多种测量尺度和测量模式的复合型微纳米测量仪.为使其具备大范围快速扫描测量和小范围精细测量功能,仪器集成了白光干涉和原子力显微镜两种测头,通过设计适用于两种测头集成的桥架结构及宏/微两级驱动定位平台,实现整机的开发.为保证仪器测量结果的准确性和溯源性,利用标准样板对开发完成的仪器进行了校准.仪器搭载的白光干涉测头可以达到横向500 nm,纵向1 nm的分辨力;原子力显微镜测头横向和纵向分辨力均可达到1 nm.最后,利用目标仪器对微球样品进行了测量,通过大范围成像和小范围精细扫描,获得了微球的表面特征,验证了仪器对复杂微结构的测量能力.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	傅云霞	上海市计量测试技术研究院机械与制造计量技术研究所	30	86	6.0	7.0
2	李源	上海市计量测试技术研究院机械与制造计量技术研究所	19	84	6.0	8.0
3	魏佳斯	上海市计量测试技术研究院机械与制造计量技术研究所	6	9	2.0	3.0
4	刘俭	哈尔滨工业大学仪器科学与工程学院	14	109	5.0	10.0
5	吴俊杰	上海市计量测试技术研究院机械与制造计量技术研究所	3	10	1.0	3.0