镓熔点温坪复现研究

• 作者: 何沛 李利峰 李锐 王宁 闫小克
• 来源期刊: 计量学报
• 学科: 工学
• 关键词: 计量学 ITS-90 镓熔点容器 复现方法 熔化温坪 自热和静压修正 杂质影响
• 年，卷（期）: 2020,（4）
• 页码范围: 419-424
• 页数: 6页
• 分类号: TB942
• 字数: 3481字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-1158.2020.04.05

摘要

镓熔点是ITS-90国际温标中重要的定义固定点,在温度计量研究中起着重要作用.由于高纯镓从液态转化为固态时,体积膨胀约3.1％,传统玻璃外壳的镓熔点容器在冻制过程中很容易造成损坏.为了解决这一难题,设计了一种具有金属外壳的镓熔点装置,以该装置为对象,开展了2种不同镓熔点复现方法和2种不同复现装置对镓相变温坪影响方面的研究,并与国外同类型装置的性能进行了比较.实验结果表明:不同镓点容器复现的镓熔点温度在0.02mK范围内一致,高纯镓中的微量杂质是造成差异的主要原因;外液-固界面复现方法比双液-固界面复现方法得到的温坪值低0.09mK;不同复现装置对镓熔点温坪的影响较小.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李锐		58	250	10.0	13.0
2	闫小克		39	172	7.0	10.0
3	王宁		5	10	2.0	3.0
4	李利峰		1	0	0.0	0.0
8	何沛		1	0	0.0	0.0