基于横向莫尔条纹的自准直测角方法

• 作者: 朱超逸 王玫 陆炜鑫 高红
• 来源期刊: 大学物理
• 学科: 物理学
• 关键词: 莫尔条纹 自准直测角 高分辨率
• 年，卷（期）: 2020,（5）
• 所属期刊栏目: 大学生园地
• 页码范围: 74-77
• 页数: 4页
• 分类号: O4-1
• 字数: 2472字
• 语种: 中文
• DOI: 10.16854/j.cnki.1000-0712.190264

摘要

本文提出了基于横向莫尔条纹的自准直测角方法,用遮光原理分析了莫尔条纹的位移放大作用.并基于该方法搭建了原理光路,得到的莫尔条纹信号稳定且能够满足测量需求.在此基础上对系统进行了定量标定,简化了数据处理步骤,实现了动态测量,系统分辨率达到10”,进一步明确将该方法应用到自准直仪中可以有效提高仪器分辨率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王玫	北京航空航天大学物理学院	19	88	5.0	9.0
2	高红	北京航空航天大学物理学院	14	8	2.0	2.0
3	朱超逸	北京航空航天大学仪器科学与光电工程学院	1	0	0.0	0.0
4	陆炜鑫	北京航空航天大学能源与动力工程学院	1	0	0.0	0.0