基于磁光调制及基频信号检测的高精度波片测量

• 作者: 刘斌超 吕唯唯 孔祥悦 张孟策 罗会甫 陈强华
• 来源期刊: 北京理工大学学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 波片测量 相位延迟 磁光调制 基频检测
• 年，卷（期）: 2020,（5）
• 所属期刊栏目: 机械工程
• 页码范围: 461-465
• 页数: 5页
• 分类号: O436.3
• 字数: 4022字
• 语种: 中文
• DOI: 10.15918/j.tbit 1001-0645.2018.189

摘要

为提高波片相位延迟量的准确性,提出了一种基于磁光调制的波片相位延迟量测量方法.在标准1/4波片和检偏器之间插入磁光调制器,调整元件转角使出射光强只剩下偶次谐波成分,利用该特性,通过检测基频成分的残余量而非整个光强信号来进行波片相位延迟量的精密测量.利用琼斯矩阵推导了相应的理论公式并建立了波片测量系统,误差分析表明当环境温度变化范围为0.1℃时,系统测量不确定优于5',对1/2波片和1/4波片的重复测量实验表明测量标准偏差约为2'.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	罗会甫	北京理工大学机械与车辆学院	13	83	5.0	9.0
2	吕唯唯	北京理工大学机械与车辆学院	18	80	5.0	8.0
3	张孟策	北京理工大学机械与车辆学院	2	1	1.0	1.0
4	陈强华	北方工业大学机械与材料工程学院	2	0	0.0	0.0
5	刘斌超	北京理工大学机械与车辆学院	2	0	0.0	0.0
6	孔祥悦	北方工业大学机械与材料工程学院	1	0	0.0	0.0