高能偏振能量色散X射线荧光光谱仪特性研究及地质样品中主微量元素分析

• 作者: 袁静 刘建坤 郑荣华 沈加林
• 来源期刊: 岩矿测试
• 学科: 化学
• 关键词: 高能偏振能量色散X射线荧光光谱法 地质样品 粉末压片 主微量元素
• 年，卷（期）: 2020,（6）
• 所属期刊栏目: 岩石矿物分析
• 页码范围: 816-827
• 页数: 12页
• 分类号: O657.31
• 语种: 中文
• DOI: 10.15898/j.cnki.11-2131/td.202001070007

摘要

高能偏振能量色散X射线荧光光谱仪由于其高能特性为包括重金属和稀土元素在内的原子序数较大的重元素分析带来了新的契机.本文应用高能偏振X射线荧光光谱仪(HE-P-EDXRF)建立了土壤、岩石和水系沉积物中主微量元素分析方法,对分析线的选择、谱线重叠干扰校正及基体校正模式等进行了探讨,并用不确定度对方法进行了评估.研究表明:①原子序数较大的微量元素选取Kα线作为分析线,谱线重叠干扰较少,有利于获得谱峰净强度,甚至La、Ce和Nd等稀土元素也能够准确测定;②合适的基体校正方法能够改善标准曲线拟合效果;③微量元素Ba和稀土元素La、Ce等,HE-P-EDXRF方法检出限具有明显优势,而对于轻元素WDXRF方法检出限更低;④检验样本除Na2 O、MgO、P和Sm外平均相对误差均在15％以下,微量元素相对平均误差在2.40％ ～16.3％之间,除Cu和Yb外其余微量元素准确度结果显著优于WDXRF;⑤根据欧盟和国际上不确定度的评估方法,除V和Th外,其他微量元素与有证标准物质的认定值间不存在显著性差异.综合来看,本方法更适用于分析岩石、土壤和沉积物等常规地质样品中的微量和稀土元素,解决了此类样品中微量元素对ICP-MS等需复杂化学前处理的分析方法的依赖.