基于改进发射率模型的多光谱测温方法

• 作者: 冯驰 刘晓东 王兆丰
• 来源期刊: 应用科技
• 学科: 工学
• 关键词: 多光谱测温 自适应概率 正态分布算子 非支配排序 发射率模型 辐射测温 快速收敛 高精度
• 年，卷（期）: 2020,（5）
• 所属期刊栏目: 现代电子技术
• 页码范围: 45-52
• 页数: 8页
• 分类号: TN911.72
• 语种: 中文
• DOI: 10.11991/yykj.201911004

摘要

为解决辐射测温时由于测温环境不同,发射率测量困难而引发的测量误差浮动较大的问题,研究了非支配排序遗传算法运用在光谱辐射测温时的精确性.分别从初始化种群、选择概率算子、交叉及变异算子等方面对该遗传算法进行改进,引入正态分布交叉算子,使其在进化前期拥有较高的多样性,并在后期实现快速收敛.引入考虑温差影响的发射率模型结合经典多光谱测温方法,采用六波长高温计进行数据分析,通过对比传统GA算法、经典非支配排序算法以及改进后的非支配排序算法分别应用于考虑温度影响与未考虑温度影响的发射率模型时的计算结果,从速度、精度、计算结果稳定性等方面进行了分析.结果表明,改进后的非支配排序遗传算法结合考虑温度因素的发射率模型后,能在保证处理时间的情况下,有效地改善数据处理效果,提高温度测量的准确性.