X射线荧光光谱法测定氟化铝元素组分影响因素探讨

• 作者: 白万里 李小艳 马艳红
• 来源期刊: 轻金属
• 关键词: 氟化铝 X射线荧光光谱法 粉末压片法 研磨时间 试剂挥发 直接研磨法
• 年，卷（期）: 2020,（8）
• 所属期刊栏目: 分析检测
• 页码范围: 49-54
• 页数: 6页
• 分类号: TG115.22+2
• 语种: 中文
• DOI: 10.13662/j.cnki.qjs.2020.08.012

摘要

为解决氟化铝X射线荧光光谱分析(压片)标准方法中:低沸点试剂挥发和研磨时间不明的问题,选择直接研磨制样,X射线荧光光谱法测定氟化铝中氟、铝、钠、硅、铁、硫、磷等组分含量;试验表明研磨时间对测定准确度有较大影响,随着研磨时间增加,样品粒度不断下降,氟元素荧光强度逐步增大,100 s时处于临界拐点,研磨超过100 s可得到良好结果;采用1,2-丙二醇代替乙醇等易挥发试剂,可避免设备光室压力过大现象;样品精密度试验中所有元素组分的相对标准偏差(RSD)在5％以下,方法重现性良好;标准样品的测定结果和定值一致,氟化铝试样湿法化学结果和XRF测定值吻合,方法可靠.