TFT-LCD边缘暗带不良机理研究与改善

• 作者: 刘来峰 孙福坤 廖伟经 翟承凯 郭晓斌 马健 黄正峰
• 来源期刊: 液晶与显示
• 学科: 工学
• 关键词: 液晶显示器 边缘暗带 亮度均匀性 盒厚 背光
• 年，卷（期）: 2020,（11）
• 所属期刊栏目: 器件物理及器件制备技术
• 页码范围: 1134-1141
• 页数: 8页
• 分类号: TN141.9
• 语种: 中文
• DOI: 10.37188/YJYXS20203511.1134

摘要

针对薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display,TFT-LCD)边缘亮度偏低、出现暗带的不良现象,对不良机理及影响因子进行研究,并总结较优工艺条件.实验结果表明:从液晶面板设计角度,均匀的边缘盒厚有助于提升边缘亮度均一性,故适中的液晶量、硅球尺寸、硅球掺杂比及较硬的封框胶其性能更优,同时贴附偏光片后的液晶面板越平坦其暗带程度越轻;从背光源角度,模组成品的边缘暗带不良与背光源批次存在强相关性,但主要受背光源的平坦度等尺寸参数影响而非背光源自身的暗带程度.此外,老化工艺释放了背光源与液晶屏组装时产生的内应力,缓和边缘位置的形变,适当延长老化时间有利于降低边缘暗带不良发生率.通过以上较优条件的导入,成功改善了TFT-LCD显示器边缘暗带不良,有效地提升了产品竞争力.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	马健		1	0	0.0	0.0
2	孙福坤		1	0	0.0	0.0
3	廖伟经		1	0	0.0	0.0
4	黄正峰		1	0	0.0	0.0
5	刘来峰		1	0	0.0	0.0
6	翟承凯		1	0	0.0	0.0
7	郭晓斌		1	0	0.0	0.0