一种消除紧缩场测试中多径效应的方法

• 作者: 何子远 杨世伟 樊勇 雷世文
• 来源期刊: 太赫兹科学与电子信息学报
• 学科: 工学
• 关键词: 紧缩场测试 多径信号 等距移动 范德蒙特矩阵
• 年，卷（期）: 2020,（4）
• 所属期刊栏目: 电磁场与微波
• 页码范围: 660-664
• 页数: 5页
• 分类号: TN98
• 语种: 中文
• DOI: 10.11805/TKYDA2019192

摘要

在天线方向图测试中,紧缩场测试(CATR)是远场测试的一种有效替代手段,但多径效应的存在,会显著影响紧缩场测试的精确度.本文提出一种能在紧缩场测试中有效消除多径效应的方法.该方法把待测天线(AUT)沿任意特定方向等距移动,进行多次测量,不同位置测得的多径信号会有不同的相移因子,利用这些相移因子构造一范德蒙特矩阵,对该范德蒙特矩阵直接求逆,可得到被测单元对所有信号的响应输出,其中,零度方向的响应输出即为待测单元的方向图.仿真及测试数据偏差均小于0.5 dB,表明该方法可以对多径效应进行有效的消除.