数字隔离器结构分析技术研究

• 作者: 刘路扬 徐昕 邝栗山 陈品君
• 来源期刊: 电子测试
• 关键词: 数字隔离器 结构分析 耦合线圈
• 年，卷（期）: 2020,（4）
• 所属期刊栏目: 设计与研发
• 页码范围: 5-7
• 页数: 3页
• 字数: 1773字
• 语种: 中文

摘要

国产化替代的元器件,由于设计、结构、材料和工艺无法保证与进口元器件完全一致,这些方面的差异会直接影响元器件的固有可靠性,而通过结构分析技术,则可以在元器件设计环节准确的识别出这些潜在问题和缺陷.本文以进口ADUM1400和国产GL1400P数字隔离器为对象进行了结构分析,发现了相关影响可靠性的因素.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邝栗山		2	0	0.0	0.0
2	刘路扬		3	3	1.0	1.0
3	徐昕		2	0	0.0	0.0
4	陈品君		2	0	0.0	0.0