铂丝位错特性对标准铂电阻温度计稳定性影响的研究

• 作者: 叶萌 孙建平 曾佳旭 李旭 蒋庆 高凯 高智涵
• 来源期刊: 计量学报
• 学科: 工学
• 关键词: 计量学 标准铂电阻温度计 位错 退火时间 90国际温标 X射线衍射法
• 年，卷（期）: 2020,（11）
• 页码范围: 1352-1357
• 页数: 6页
• 分类号: TB942
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-1158.2020.11.07

摘要

铂丝的位错是影响标准铂电阻温度计性能稳定性的重要因素之一.从微观角度出发,借助X射线衍射(XRD)分析方法,开展了退火时间对铂丝位错密度影响的研究,并利用标准铂电阻温度计退火实验数据进行了验证.结果 表明:实际用于标准铂电阻温度计直径为0.07 mm的新制铂丝(纯度99.999％)平均位错密度随着退火时间呈指数减小,经过100h退火后位错密度从1012 cm-2下降到1011 cm-2,300 h后其位错密度基本保持稳定;新制标准铂电阻温度计在退火前300 h其水三相点电阻值明显减小,退火300 h后水三相点值变化量小于3 mK并趋于平稳,此结果从热处理时间上与铂丝位错实验结果基本吻合.研究结果为标准铂电阻温度计制作工艺的提升及计量检定规程的修订提供技术支撑.