相控阵天线驻波测试方法研究

• 作者: 刘举 王永海 谷加臣
• 来源期刊: 现代信息科技
• 学科: 工学
• 关键词: 相控阵 驻波 互耦
• 年，卷（期）: 2020,（2）
• 所属期刊栏目: 通信工程
• 页码范围: 74-76,79
• 页数: 4页
• 分类号: TN822
• 字数: 1924字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.2096-4706.2020.02.027

摘要

天线辐射信号时,自身会存在一定大小的驻波,而相控阵天线的单元间还存在互耦效应,使得天线的驻波增大,会对发射机功放组件造成一定的损坏,因此,在设计相控阵天线时,必须考虑驻波的大小及其影响.针对此问题提出了一种测试相控阵天线驻波大小的方法,将驻波分为自耦部分和互耦部分,分别进行测试,并相加得到总的驻波,并与仿真结果进行了对比验证,证明了测试方法的有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘举		2	0	0.0	0.0
2	王永海		3	0	0.0	0.0
3	谷加臣		1	0	0.0	0.0