篇名 | Single-event-transient effects in silicon-on-insulator ferroelectric double-gate vertical tunneling field effect transistors | ||
来源期刊 | 中国科学 | 学科 | 工学 |
关键词 | tunneling ferroelectric effect | ||
年,卷(期) | zgkx_2020,(12) | 所属期刊栏目 | |
研究方向 | 页码范围 | 274-276 | |
页数 | 3页 | 分类号 | TN386 |
字数 | 语种 | 中文 | |
DOI |