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瑞利衰落信道模型的综合验证方法
瑞利衰落信道模型的综合验证方法
作者:
黄继斌
何怡刚
隋永波
黄源
吴裕庭
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
瑞利衰落信道
统计特性
拟合优度检验
多普勒功率谱密度
对数均方能量误差(LMSEE)
摘要:
现有的信道模型验证方法大多只能验证衰落模型的一阶统计特性,即信号包络的幅值特性和相位特性.由于衰落信道模型的复杂性和多样性,已有的一阶统计特性验证方法不能对信道模型进行精确分类,提出一种瑞利衰落模型的综合验证方法.首先通过一阶统计特性验证是否服从瑞利分布,然后由多普勒功率谱分布验证属于何种瑞利衰落模型,提取衰落信道复序列的多普勒功率谱密度函数,计算与理论多普勒功率谱密度的对数均方能量误差(LMSEE),利用LMSEE判定多普勒功率谱分布类型,从而完成对给定衰落信道模型的验证.进行了大量仿真实验和实物验证,将输入信号通过各衰落信道模型后得到输出信号,分析输出信号的统计分布,验证对常见瑞利衰落模型的识别性能,实验结果显示识别正确率超过98%,表明了方法的有效性.
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文献信息
篇名
瑞利衰落信道模型的综合验证方法
来源期刊
电子测量与仪器学报
学科
关键词
瑞利衰落信道
统计特性
拟合优度检验
多普勒功率谱密度
对数均方能量误差(LMSEE)
年,卷(期)
2020,(11)
所属期刊栏目
"信息处理技术"专题|INFORMATION PROCESSING TECHNOLOGY
研究方向
页码范围
10-18
页数
9页
分类号
TN911
字数
语种
中文
DOI
10.13382/j.jemi.B1901960
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传播情况
被引次数趋势
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引文网络
引文网络
二级参考文献
(79)
共引文献
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参考文献
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节点文献
瑞利衰落信道
统计特性
拟合优度检验
多普勒功率谱密度
对数均方能量误差(LMSEE)
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子测量与仪器学报
主办单位:
中国电子学会
出版周期:
月刊
ISSN:
1000-7105
CN:
11-2488/TN
开本:
大16开
出版地:
北京市东城区北河沿大街79号
邮发代号:
80-403
创刊时间:
1987
语种:
chi
出版文献量(篇)
4663
总下载数(次)
23
总被引数(次)
44770
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